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一文读懂车规级安全芯片与芯片安全测试技术
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【摘要】:




芯片的安全测试需要专业设备与专业人员,测试执行方式主要包括非侵入式、半侵入式和侵入式三类,详细情况见表格4:
分类 |
描述 |
特点 |
非 侵 入 式 |
使用通用型设备或者工具(如JTAG工具、存储芯片读取工具和逻辑分析仪等),设备价格低廉。需要人员遵照规范性流程测试,并具备基础芯片和电路知识。 |
测试对芯片不造成破坏,确保芯片防范非侵入式攻击,现实中受此类安全威胁概率最大。 |
半 侵 入 式
|
使用专业设备(如研磨器、激光器等),设备价格中等,需要人员具备一定专业芯片设计知识。 |
测试可对芯片造成破坏,确保芯片防范半侵入式攻击,现实中受此类安全威胁概率较大。 |
侵 入 式
|
使用非常专业的芯片分析工具(如FIB、电镜等),设备价格高昂,对测试人员专业性要求最高 |
测试可对芯片造成不可逆转的破坏,确保芯片防范侵入式攻击,现实中受侵入式攻击的安全威胁概率较小。 |
表格4安全芯片安全测试方式
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